納米壓痕儀主要用于微納米尺度薄膜材料的硬度與楊氏模量測試，測試結(jié)果通過力與壓入深度的曲線計算得出，無需通過顯微鏡觀察壓痕面積。

　　納米壓痕儀主要用于測量納米尺度的硬度與彈性模量，可以用于研究或測試薄膜等納米材料的接觸剛度、蠕變、彈性功、塑性功、斷裂韌性、應(yīng)力-應(yīng)變曲線、疲勞、存儲模量及損耗模量等特性。可適用于有機或無機、軟質(zhì)或硬質(zhì)材料的檢測分析，包括PVD、CVD、PECVD薄膜，感光薄膜，彩繪釉漆，光學(xué)薄膜，微電子鍍膜，保護性薄膜，裝飾性薄膜等等。基體可以為軟質(zhì)或硬質(zhì)材料，包括金屬、合金、半導(dǎo)體、玻璃、礦物和有機材料等

　　納米壓痕技術(shù)是測量納米機械屬性的一個關(guān)鍵技術(shù)。雖然準(zhǔn)靜態(tài)納米壓痕支持利用負(fù)載位移曲線表征應(yīng)力和應(yīng)變關(guān)系，但是它需要大量的測試才能深入了解材料的行為。動態(tài)測試可以揭示材料剛度與深度的關(guān)系，允許復(fù)雜的分析。如果使用準(zhǔn)靜態(tài)試驗，這些分析需要成千上萬次的試驗。

　　納米壓痕儀利用電磁驅(qū)動頭和解耦的電容位移計來分別測量力和位移。這提供廣泛的力和位移動態(tài)范圍，可進(jìn)行從納米到毫米的變形分析。本設(shè)計具有杰出的控制能力，而這種控制能力對于完成薄膜、納米材料、MEMS和其它器件結(jié)構(gòu)的實驗是至關(guān)重要的。